Toggle navigation
關於我們
最新消息
所有產品
電器特性量測
材料特性量測
可靠度測試
實驗室設備租用
PCIe Gen 4.0
PCIe Gen 5.0
PCIe Gen 6.0
ISI通道模擬板
PCB SI諮詢(乙太網ISI測試板)
實時TDR測試儀
測試服務
電氣特性量測
材料特性量測
可靠度測試
實驗室設備租用
測試治具
PCIe Gen 4.0 M.2 AE Key 艾肯創科製造
PCIe Gen 5.0 測試治具 (32GT/s) 艾肯創科製造
PCIe Gen 6.0 測試治具 (64GT/s)艾肯創科製造
ISI通道模擬板
合作夥伴
聯絡我們
EN
紅外線熱像儀 Thermal camera, Thermal Camera lock in
分享
商品詳情
評論列表
• Optotherm Sentris
• 用於電路板失效點定位
• 搭配Power Supply使用
• 搭配Lock-in 功能進行高阻值失效點尋 找(Ex: CAF失效)(建置中
評論列表
發表評論
主旨
姓名
Email
評論內容
驗證碼
提交評論
購物車
登入
Close
帳號
密碼
驗證碼
Voice Play
9089
登入
忘記密碼
登入成功
評論列表