Delta L 是 Intel 為 PCB 行業開發的一種插入損耗測試方法，旨在顯著降低測量差分插入損耗的難度和成本。該方法採用標準化樣品設計，使測量過程更加統一，並可利用標準測試夾具進行快速測試。

艾肯創科提供以下服務：

d-1 Delta L 3.0 測試片

• 工作頻率：最高 20 GHz
• 測試方法：Delta L 3.0
• 測試點間距：0.5 mm 至 1.0 mm

d-2 Delta L 4.0 測試片

• 工作頻率：最高 40 GHz
• 測試方法：Delta L 4.0
• 測試點間距：0.5 mm

d-3 阻抗測試片

• 工作頻率：最高 20 GHz
• 測試點間距：0.1 mm 至 3.0 mm 可變